P
P管制图表(一)
管制图编号：002—1
产品名称： 耦合器 部门： 生产部 上管制线： VCL= P+3√P(1-P)/n 限制日期：
工序： 合盖 仪表： 网络分析仪 中心线： CL= ∑Pn/∑n 抽样方法：取样时间22天，
品质特性： 电性能指标 检测人： 罗金辉 下管制线： LCL= P-3√P(1-P)/n 每天随机抽样1组，每组100件。
序号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 测定人:WK
检查数 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 ∑n = 2200
φPn 32 21 40 32 23 21 33 31 33 34 32 24 35 28 40 32 29 33 32 34 23 35 ∑Pn= 677
φP P =
VCL 柏拉图分析
LCL 不良种类 耦合大1 短路2 隔离不够3 驻波高4 耦合小5 其他7 合计
P 不良数 402 184 53 31 6 1 677
占不良比 59% 27% % % % %
管
制 不良类别 序号 不良数 占不良比 累计比
图 驻波高 1 402 % %
短路 2 184 % %
隔离不够 3 53 % %
耦合大 4 31 % %
耦合小 5 6 % %
% 其它 6 1 % %
677
统计 管制图显稳态，制程正常。 持续改进：在402台耦合度偏大的耦合器中，据本月不良记录
分析 有321台为5dB耦合器，需通知技术部对其进行原因分析，提出改善对策，减少下月此类不良数。
&R&"Times New Roman,常规"7
P
&A
Page &P
CL
P
UCL
LCL
&A
Page &P
累计百分比
不良数量
1 1 1
CL
P
UCL
