Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk应用技术编制：刘高树2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK检测设备能力指数介绍：1).评估一个测试仪器的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方法，是短期的检测设备能力指数2).用高一级精度的测量仪器来确定校准标本真实的尺寸。这个标本的实际数值应尽可能地与将要测量的测量项次的目标值趋于一致。如果没有合适的参考测量仪器或对测量结果的正确性明显存在怀疑，那么就只能测定Cg值。3).用同一仪器在确定的测量位置上必须在相同条件下重复对样本进行至少25次（一般情况为50次）的测量。4).用这组数据计算出：平均值或平均值偏移值，标准差S5).确定被测产品的公差范围T=USL-LSL6).Cg= }或Cgk= ( x 被测产品的公差范围-平均偏移值的绝对值) / (2 x标准差)8).Cgk 一般接受的标准是>= 通常，Cgk要在做测量系统的GRR 以前就要评估好。如果一个测试仪器的Cgk太小，它就不能用于这个产品性能的测量。9). 至于Cgk的公式，各个公司公式可能不同，有公司采用3S，也有采用2S编制：刘高树2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cmk机械设备能力指数介绍：1).评估一个机械设备稳定性(验收设备)，是短期的机械设备能力指数；(强调设备本身因素的影响，是针对机械设备，而不是针对机械的零件)2).做Cmk时，人员、原材料、加工方法、测量系统，生产模具不能发生改变是前提条件生产件做抽样监测，主要目的是探测出初期制程或新工艺或新产品投入生产时可能存在特殊因素造成的影响程度。3).用同一仪器在确定的测量位置上必须在相同条件下量测25个连续生产样件对应数据值（一般情况取50个样件）的测量值。4).用这组数据计算出设备存在的变差：平均值或平均值偏移值，标准差S5).确定被测样件的公差范围T=Usl-Lsl6).Cm=T/6s7). 计算公式：Cmu= (Usl-Mean)/(3*s) Cml= (Mean-Lsl)/(3*s)Cmk= min(Cmu, Cml)8). Cmk一般接受的标准是>= 编制：刘高树2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Ppk制程能力指数介绍：1).评估一个制程或工程的稳定性，是短期的制程能力指数；(包括：4M机械设备，人员，材料，方法，环境，检测设备等)2).做Ppk时，人员,原材料,加工方法,测量系统,生产模具,作业环境等都是在刚刚投入条件下生产件做抽样监测，主要目的是探测出制程可能存在除了普通原因以外，还有特殊原因引起的变异，造成的影响程度；3).在短期阶段或初期阶段(新产品量产前内，抽取相同制程且一定数量的样件量，测需要的特殊特性数值(一般：n>=50个数据，最好n>100个数据)4).用这组数据计算出制程存在的变差：平均值u，标准差s5).确定被测样件的公差范围T=Usl-Lsl6). Pp=(Usl-Lsl)/6s7). 计算公式：2、Ppk= min{(Usl-u)/3s ,(u-Lsl)/3s }注释：Usl为上规格线，Lsl为下规格线，u为实际测得的平均值8). Ppk一般接受的标准是>= ；Ppk只能反映过程的过去。编制：刘高树2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cpk制程能力指数介绍：1).评估一个制程或工程的稳定性，是长期的制程能力指数；(包括：4M机械设备，人员，材料，方法，环境，检测设备等)2).做Cpk时，制程经过一段时间后在稳定情况下人员, 材料,方法,测量系统,生产模具,作业环境在符合规格范围内的适当改变条件下的生产件做抽样监测，主要目的是探测出系统可能存在的普通因素造成的影响程度；3).在一段时间(可以是一个周，一个月，半年，一年)内，抽取相同制程且一定数量的样件量测需要的特殊特性数值(一般：n>=25组数据，每组>=5个数值)。4).用这组数据计算出制程存在的变差：平均值u，标准差s5).确定被测样件的公差范围T=Usl-Lsl6). Cp=(Usl-Lsl)/6s7). 计算公式：1、Cpk= (1-k)*cp; k=|u-M|/(Usl-Lsl)/2或2、Cpk= min{(Usl-u)/3s ,(u-Lsl)/3s } 注释：Usl为上规格线，Lsl为下规格线，u为实际测得的平均值，M为上下规格的中心点，K值表示的意思是实际平均值偏离中心值的程度8). Cpk一般接受的标准是>= ；Cpk可以用来预测过程的未来。编制：刘高树2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk各能力指数区别能力指数：CgkCmkPpkCpk适用范围：检测仪器机械设备缩合制程缩合制程评价时期：初期或定期验收期试产期量产期评价目的：评估检测系统评估设备普通原因普通原因公差相匹配性稳定性特殊原因(稳定条件)抽取数量：N>=25次N>=50个N>=50个n>=25组，且≥5个/组标准差计算：N-1 N-1 N-1 N 或R/d(极差估计)2指数值：>= >= >=>= 探查作用：反映过程的过去反映过程的过去预测过程的未来计算公式：{ x T-|u-M|)}/ 2 *smin{(Usl-u)/3*s ,(u-Lsl)/3*s }注：N-1样本，N总体；Cgk中的一般取1/10～1/5值编制：刘高树2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk过程表达方式CgK, Cmk, Ppk, Cpk计算表达方式中心偏移度率：k=|u-M|/(Usl-Lsl)/2+3s u -3sCgKCmkPpkCpk设备设备人员人员方法方法材料Cpu=(Usl-u)/3sCpl =(u-Lsl)/3s 设备材料环境检具环境Cp=(Usl-Lsl)/6s未生产初期生产大量生产UslM Lsl抽样数：25-50 50-100 >125Cpk= min{(Usl-u)/3s ,(u-Lsl)/3s }要求： 编制：刘高树2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk评级标准等级要求值状态处理方案A＋＋级xxk≥2 特优可考虑成本的降低A＋级2＞xxk≥ 优应当保持之A 级＞xxk≥ 良能力良好，状态稳定B 级＞xxk≥ 一般状态一般，C 级＞xxk≥ 差制程不良较多，必须提升其能力D 级＞xxk不可接受其能力太差，重新整改设计制程编制：刘高树2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk评级标准涉及K值(Ca值)评价K= |Ca|＝( X －μ) / ( T / 2 )等级要求值状态处理方案A级|Ca|≤％优按SOP作业B级%＜|Ca|≤25% 一般可考量改进C 级25%＜|Ca|≤50% 差调查规格的合理性或错误操作D级50%＜|Ca|极差停机，重新调整后生产注：K= |Ca|值越小，分布接近中心值，如下图(红色表示规格，绿色表示中心值M，箭头表示分布u)规格大小中心值M 平均u u<M命中u>M命中且偏离u>M命偏且规格外修改中心值检讨中心值和规格范围编制：刘高树2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk评级标准涉及Cp评价Cp=(Usl-Lsl)/6s; 单边Cp=Cpk=Cpu=Cpl=规格容许差/3s等级要求值状态处理方案A级≤Cp 稳定可考量缩小规格B级＜Cp ≤ 一般必须加以注意，维持C 级＜Cp ≤ 危险检讨规格及作业标准D级Cp≤ 极差停机，重新调整后生产注：Cp 值越大，分布数据接近，但也有可能偏于中心值的分布规格U-L 中心值M 密度高-----低u 密集命中密度高分散命中密度低密集命中密度高，但偏离大规格宽松，须缩小提高设备精度或放宽规格修改中心值，缩小规格范围编制：刘高树2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk过程涉及标准差s (1s,2s,3s,4s,5s,6s)+6s +5s +4s +3s +2s +1s u -1s -2s -3s -4s -5s % % % 不良率UslM Lsl标准差CPK=？标准差预估直通率1s时，CPK=+1s～-1s，%2s时，CPK=+2s～-2s，%3s时，CPK=+3s～-3s，%4s时，CPK=+4s～-4s，%5s时，CPK=+5s～-5s，%6s时，CPK=+6s～-6s，%编制：刘高树2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍结束语：1. 通过以上各种能力指数的分析，可以针对工作需要选用或并用多种工具，了解4M等因素或制程能力，确保生产品质是否在掌握范围？2. 任何一种统计工具都要灵活运用，不可极端采纳。3. 目前管制线一般采用+3s～-3s，直通率为%作为基准线，来做SPC管制线以上报告，仅个人意见编制：刘高树2009/12/22～24
